Просмотр записи

Cиcт.нoмep	000838179
Идeнтиф.	RU\NLR\AUTH\66887356
Версия	19980708000000.0
Заголовок	Полупроводники -- Домены электрические -- Неустойчивость -- Электронно-микроскопические исследования
Б.широкое	Электронная микроскопия